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Accelerated testing : statistical models, test plans and data analysis

Wayne Nelson. -- Wiley, 1990. -- (Wiley series in probability and mathematical statistics . Applied probability and statistics). <BB00145581>
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Accelerated testing : statistical models, test plans and data analysis

Wayne Nelson. -- Wiley, 1990. -- (Wiley series in probability and mathematical statistics . Applied probability and statistics). <BB00145581>
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所蔵一覧 1件～1件（全1件）

No. 巻号 所蔵館 配置場所 請求記号 資料ID 状態 返却予定日 予約
0001 本部 保存庫2階一般 417/N 63 11112601624 0件
No. 0001
巻号
所蔵館 本部
配置場所 保存庫2階一般
請求記号 417/N 63
資料ID 11112601624
状態
返却予定日
予約 0件
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書誌詳細

標題および責任表示 Accelerated testing : statistical models, test plans and data analysis / Wayne Nelson
出版・頒布事項 New York : Wiley , c1990
形態事項 xiv, 601 p. : ill. ; 25 cm
巻号情報
ISBN 0471522775
書誌構造リンク Wiley series in probability and mathematical statistics <BB00156286> . Applied probability and statistics//a
注記 "A Wiley-Interscience publication."
注記 Includes bibliographical references (p. 561-577) and index
学情ID BA10134812
本文言語コード 英語
著者標目リンク *Nelson, Wayne, 1936- <AU00009935>
分類標目 LCC:QA276
分類標目 DC20:519.5
件名標目等 Failure time data analysis
件名標目等 Reliability (Engineering) -- Statistical methods
件名標目等 Accelerated life testing -- Statistical methods
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